高低溫試驗就是將試驗樣品暴露于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高、低溫環(huán)境中，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。按工作狀態(tài)不同，分為高溫儲存試驗、低溫貯存試驗、高溫工作試驗、低溫工作試驗。其目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運輸和使用中對高低溫環(huán)境的適應(yīng)性。

我司可按GB T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A 低溫試驗方法及GJB 軍gong裝備實驗室環(huán)境試驗方法 低溫試驗.等標(biāo)準(zhǔn)要求，開展高低溫貯存試驗、高低溫工作試驗?？蛇M(jìn)行常溫到-100℃試驗，試驗箱空間大為45立方米，可進(jìn)行常溫到+300℃試驗，試驗箱空間大為45立方米，滿足絕大多數(shù)軍gong裝備、汽車零件部，電子元器件的試驗需求，為各類產(chǎn)品試驗提供有力保障。是目前國內(nèi)僅有的幾家擁有270立方米步入式溫度試驗箱的實驗室之一，

用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的篩選試驗。