克萊斯勒、福特和通用汽車(chē)為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統標準而設立了汽車(chē)電子會(huì )(AEC)，AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil：汽車(chē)電子協(xié)會(huì )”的簡(jiǎn)稱(chēng)，是主要汽車(chē)制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車(chē)載電子部件的可靠性以及認定標準的規格化為目的的團體，AEC建立了質(zhì)量控制的標準。由于符合AEC規范的零部件均可被上述三家車(chē)廠(chǎng)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數據的意愿，并推動(dòng)了汽車(chē)零件通用性的實(shí)施，為汽車(chē)零部件市場(chǎng)的成長(cháng)打下基礎。

　　壽命老化測試

　　芯片可靠性驗證(RA)：

　　芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113；

　　高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103；

　　溫度循環(huán)試驗(TC),JESD22-A104；

　　溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101；

　　高加速應力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110；

　　高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108；

　　高溫老化壽命試驗

　　AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是，第三方難以立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠(chǎng)配合完成，這*加考驗對認證試驗的整體把控能力。中科檢測將根據客戶(hù)的要求，依據標準對客戶(hù)的IC進(jìn)行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證

　　芯片材料分析：

　　高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF)；

　　SEM(形貌觀(guān)察、截面觀(guān)察、膜厚測量、EBSD)

　　Raman(Raman光譜)

　　AFM(微觀(guān)表面形貌分析、臺階測量)

　　以下供大家參考使用：

　　AEC-Q100Rev-Gbase:集成電路的應力測試標準（不包含測試方法）

　　AEC-邦線(xiàn)切應力測試

　　AEC-人體模式靜電放電測試

　　AEC-機械模式靜電放電測試

　　AEC-集成電路閂鎖效應測試

　　AEC-可寫(xiě)可擦除的性記憶的耐久性、數據保持及工作壽命的測試

　　AEC-熱電效應引起的寄生閘漏電流測試

　　AEC-故障仿真和測試等級

　　AEC-早期壽命失效率（ELFR）

　　AEC-電分配的評估

　　AEC-錫球剪切測試

　　AEC-帶電器件模式的靜電放電測試

　　AEC-系統靈敏功率設備的短路可靠性描述

　　AEC-:分立半導體元件的應力測試標準（包含測試方法）

　　AEC-:人體模式靜電放電測試

　　AEC-:機械模式靜電放電測試

　　AEC-:邦線(xiàn)切應力測試

　　AEC-:同步性測試方法

　　AEC-:帶電器件模式的靜電放電測試

　　AEC-:12V系統靈敏功率設備的短路可靠性描述

　　AEC-:半導體被動(dòng)元件的應力測試標準（包含測試方法）

　　AEC-:阻燃性能測試

　　AEC-:人體模式靜電放電測試

　　AEC-:斷裂強度測試

　　AEC-:自恢復保險絲測量程序

　　AEC-:PCB板彎曲/端子綁線(xiàn)應力測試

　　AEC-:端子應力（貼片元件）/切應力測試

　　AEC-:電壓浪涌測試

　　AEC-Q100作用

　　中科檢測，經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展，現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構，專(zhuān)注于為客戶(hù)提供計量、檢測、認證以及技術(shù)咨詢(xún)與培訓等技術(shù)服務(wù)，在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車(chē)規元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規模處于國內水平。